마이크로LED
테스트 & 검사
옴니픽스-ML 1000
전체 웨이퍼 테스트
옴니픽스-ML1000은 최초의 일체형 마이크로 LED 테스트 시스템으로, 웨이퍼 전체 검사와 개별 픽셀 검사를 모두 제공합니다.
웨이퍼의 EQE
부분적인 EQE를 측정합니다. 개별 픽셀과 주변 및 후방 배출물에 대한 EQE를 온라인으로 분석합니다.
자동화된 PL & EL
자동화된 PL 및 EL을 사용하여 마이크로 LED를 테스트하고 특성화합니다.
별 픽셀의 고해상도 검사
나노-PL 및 나노-EL로 결함 픽셀을 분석합니다. 가장 작은 픽셀에서도 각도 측정 및 EQE를 얻을 수 있습니다. 스펙트럼, 발광, 3D 구조, 열 및 사이드월 이미징은 모두 최소 마이크로 LED에서 나노스케일까지 사용할 수 있습니다.
InZiv는 OmniPix-ML1000을 자랑스럽게 제시합니다.TM – 전체 웨이퍼 검사와 국부적인 개별 픽셀 검사를 모두 제공하는 최초의 일체형 마이크로 LED 테스트 시스템입니다. 이 시스템은 AOI, PL 및 EL을 사용하여 EQE 및 각도 측정을 비롯한 오늘날의 마이크로 LED 테스트 요구에 가장 중요한 측정을 제공합니다. 최고 해상도 측정으로 옴니픽스-ML1000TM은 마이크로 LED 검사 및 특성 확인을 위한 최첨단 솔루션을 제공합니다.
옴니픽스-ML1000TM은 여러 검사모형을 하나의 시스템에 통합하며, 전체 웨이퍼와 하위 픽셀 기능에 대한 종합적인 분석을 제공합니다. 이 독특한 조합은 마이크로 LED 개발자에게 빛, 색상, 전압 및 구조 간의 관계를 더 잘 이해할 수 있는 능력을 부여하여 마이크로 LED에서 오늘날 가장 중요한 과제를 직접 해결합니다.
InZiv의 2단계 검사 프로세스를 통해 불량 픽셀 검색 범위를 좁힙니다:
1. 전체 웨이퍼 테스트
2. 개별 픽셀 검사
PL & AOI
EL
나노-PL & 나노-EL
PL 및 AOI를 사용하여 전체 마이크로 LED 웨이퍼를 검사하여 잠재적 결함이 있는 관심 영역을 식별합니다.
EL을 사용하여 전체 마이크로 LED 웨이퍼를 검사하여 PL을 확인하고 잠재적 결함이 있는 관심 영역을 식별합니다.
100nm 해상도의 개별 마이크로 LED 픽셀 및 하위 픽셀 기능을 확대하여 대규모 매핑에 따른 심층 분석.
플립 칩 모델을 위한 직립 및 반전 현미경 옵션
